參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 主量元素分析：SrO（40-60%）、Cr?O?（20-35%）、SiO?（≤5%）、Fe?O?（≤3%）

2. 物相結(jié)構(gòu)鑒定：XRD衍射峰匹配度（JCPDS 00-024-1223），晶胞參數(shù)測(cè)定（a=5.42?±0.02）

3. 物理性能測(cè)試：密度（3.8-4.2g/cm3）、莫氏硬度（5.5-6.0）、折射率（1.72-1.78）

4. 有害元素檢測(cè)：Pb（≤50ppm）、As（≤30ppm）、Cd（≤10ppm）

5. 熱穩(wěn)定性分析：TG-DSC熱重曲線（失重率≤2%@1000℃）、熱膨脹系數(shù)（6.5×10??/℃±0.2）

檢測(cè)范圍

1. 耐火材料原料：鎂鍶鉻質(zhì)耐火磚基材

2. 陶瓷工業(yè)原料：高溫釉料用精礦粉

3. 催化劑載體：石化行業(yè)催化劑前驅(qū)體

4. 冶金輔料：特種鋼冶煉添加劑

5. 地質(zhì)標(biāo)本：區(qū)域成礦帶典型礦物樣本

檢測(cè)方法

1. X射線熒光光譜法（GB/T 14506.28-2010/ISO 12677:2011）

2. X射線衍射定量相分析（ASTM E975-2016/GB/T 23413-2009）

3. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（GB/T 23991-2009）

4. 阿基米德法密度測(cè)定（ISO 18753:2004）

5. 熱重-差示掃描量熱聯(lián)用技術(shù)（ASTM E1131-2020）

檢測(cè)設(shè)備

1. PANalytical X'Pert3 Powder X射線衍射儀：物相鑒定與晶胞參數(shù)測(cè)定

2. Thermo Scientific ARL PERFORM'X X熒光光譜儀：主量元素快速定量

3. PerkinElmer Avio 550 ICP-OES：痕量元素精確分析

4. Netzsch STA 449 F3 Jupiter同步熱分析儀：TG-DSC聯(lián)用測(cè)試

5. Mettler Toledo XPE205電子天平（0.01mg精度）：密度測(cè)試稱量

6. Buehler Micromet 5104顯微硬度計(jì)：維氏硬度測(cè)定

7. Malvern Mastersizer 3000激光粒度儀：原料粉體粒度分布

8. Shimadzu UV-2600i分光光度計(jì)：特定波長(zhǎng)吸光度測(cè)定

9. Agilent Cary 630 FTIR傅里葉紅外光譜儀：官能團(tuán)結(jié)構(gòu)分析

10. Leica DM4 P偏光顯微鏡：礦物顯微形貌觀察

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)